Определение параметров пиков
Наборы данных, представляющие в графическом виде совокупность пиков, встречаются в практике измерений достаточно часто. Это изображения линейчатых спектров в оптике, линейчатые амплитудные спектры в радиотехнике, хроматограммы в химии и т.п. Целью обработки таких данных является обнаружение пиков и измерение их основных параметров – координаты центра, высоты, полуширины и площади.
В Origin предусмотрены два инструмента работы с пиками, обращение к которым производится через меню Tools:
Pick Peaks – поиск пиков;
Baseline – поиск пиков при наличии фона.
Инструмент Pick Peaks (Рис. 2.8) позволяет найти пики на изображении при отсутствии заметного фона (baseline), когда пики не перекрываются или перекрываются с сохранением провалов между ними.
При поиске пиков используется метод подвижного прямоугольника, суть которого состоит в том, что разность высот между локальным максимумом внутри прямоугольника и значениями данных на его краях должна быть не менее высоты прямоугольника. Высота прямоугольника определяется в процентах от амплитуды данных (разности между максимальным и минимальным значениями данных) и указывается в окне Height раздела Search Rectangle.
 Ширина прямоугольника также определяется в процентах от диапазона данных и указывается в окне Width того же раздела.
Дополнительно указывается минимальная высота пика Minimum Height в процентах от амплитуды данных.
Таким образом, чем меньше высота и ширина прямоугольника, тем больше может быть найдено пиков. Естественно, здесь должен быть разумный компромисс, поскольку при некоторых параметрах в качестве пиков будут идентифицироваться случайные отклонения данных. Таким образом, процедура поиска пиков должна быть итерационной с оценкой правильности поиска пиков при очередном изменении параметров поиска.
Разделы:
| 
